電壓檢測

電壓檢測
百檢網研究所涉及專項的理化性能實驗室,在電壓檢測服務領域已有多年經驗,可出具CMA資質,擁有規范的工程師團隊。百檢網研究所始終以科學研究為主,以客戶為中心,在嚴格的程序下開展檢測分析工作,為客戶提供檢測、分析、還原等一站式服務,檢測報告可通過一鍵掃描查詢真偽。
檢測費用:免費初檢,根據客戶檢測需求以及實驗復雜程度進行報價。
檢測周期:7-15個工作日出具檢測報告。
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電壓檢測范圍
模擬式電子電壓表、數字式電子電壓表、固體絕緣材料、放電燈、電纜、電壓斷路器等。
電壓檢測方法
測量交流電壓的方法主要有檢波法、采樣法、熱電法、測熱輻射法和補償法等。
檢波法
利用電子管、晶體管的檢波作用將交流電壓轉換為直流電壓進行測量。檢波式電壓表的工作頻率一般從幾十赫到一千多兆赫,量程達 100微伏~1000伏。頻率在300兆赫以下時,*度一般約為百分之幾,頻率在1000兆赫時則可達百分之幾十。 [2]
采樣法
采樣實質上是頻率變換,是用一系列離散的取樣脈沖來描述一個連續變量的過程。一般是將被測高頻信號變成20千赫的低頻信號,再進行檢波測量。這種電壓表的頻率范圍為 1~1000兆赫,甚至更高;電壓范圍約300微伏~1伏(外接衰減器可測量大的電壓),*度從百分之一到百分之十幾。 [2]
熱電法
主要采用熱電轉換標準或微電位計。熱電轉換標準由熱電偶配以適當的限流電阻或衰減器組成,可測0.1~300伏或更高的電壓,頻率范圍一般為20赫~100兆赫,若采取高頻補償措施則可達1000兆赫,測量*度約為 0.01%~1%(定標后)。利用多元熱偶特制的熱電轉換器,在低頻段的交直流轉換精度可達110-5或更高,當代的低頻電壓原始標準皆屬此類;微電位計主要由熱電偶和圓盤電阻組成,利用已知電流乘電阻得到標準輸出電壓,一般為0.1微伏~400毫伏,頻率范圍一般為0~1000兆赫,*度為0.02%~5%。 [2]
測輻射熱器法
一般是利用測輻射熱電阻(簡稱測熱電阻)進行測量。實用的測熱電阻主要有熱敏電阻、鎮流電阻和薄膜熱變電阻。熱敏電阻的靈敏度高(可達數萬歐/瓦),但頻率響應差;鎮流電阻的靈敏度較高(約數千歐/瓦),頻率響應也較差。薄膜熱變電阻的靈敏度較低(約1~100歐/瓦),但頻率響應好,可根據不同需要選用。測輻射熱裝置的工作原理是利用測熱電阻對電功率的敏感性,將被測高頻電壓轉換成相應的阻值變化,再根據功率替代原理,利用測熱技術以已知的直流或低頻電壓代替高頻電壓。這種裝置有功率計式(標準表式)和標準源式二種類型。前者是通過測量功率和阻抗換算出電壓,隨著功率和阻抗測量*度的不斷提高,可以達到很高的*度,是建立高頻電壓原始標準的方法之一;后者是直接給出標準電壓值,比較方便,可獲得較高的*度,其典型的方案是測熱電阻電橋。高頻電壓的原始標準主要是測輻射熱裝置。它的量程約為0.1~1伏,頻率范圍約為10~1000兆赫,*度約為0.2%~1%。 [2]
高頻電壓測量測量高頻電壓一般是在同軸系統中進行。
影響高頻電壓測量的*度的主要因素有:①傳輸誤差,由于被校設備的輸入阻抗與傳輸線不匹配,在傳輸線上會有駐波存在,使被校設備的輸入面和標準電壓面的電壓不等,所引入的誤差是高頻測量時的主要誤差;②加載誤差;③接地電流引入的誤差;④干擾引入的誤差;⑤波形誤差等。 [2]
電壓檢測標準
GB/T 4377-2018 半導體集成電路 電壓調整器測試方法
GB/T 5095.2-156 0190 2607 電子設備用機電元件 基本試驗規程及測量方法 第2部分;一般檢查、電連續性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗
GB/T 6798-1996 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理
GB/T 4377-1996 半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
GB/T 14114-1993 半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器測試方法的基本原理
GB/T 3789.10-1991 發射管電性能測試方法 *柵*截止電壓的測試方法
GB/T 3789.11-1991 發射管電性能測試方法 第三柵*截止電壓的測試方法
GB/T 3789.20-1991 發射管電性能測試方法 *柵*電流截止電壓的測試方法
GB/T 12272-1990 射頻同軸連接器耐射頻高電位電壓測試方法
GB/T 11755.1-1989 醫用診斷X射線機管電壓測試方法
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